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服务热线：022-87081028◆ 测试对象：双面极片、单面极片、底涂集流体、集流体。
◆ 高精度的压应力控制，更自由的压应力加载方式，经柔度修整的厚度精确测量。
◆ 高精度、变量程的交流电阻测量，手动、自动送样，多点测量、环境温、湿度同步记录。
◆ 软件一键输出各数据云图，清晰直观显示极片中各关键参量分布情况。
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主要技术参数 | ||
电阻测量 | 量程 | 0.1μΩ～3.1kΩ |
精度 | ±0.5%F.S | |
最小分辨率 | 0.1μΩ | |
厚度测量 | 量程 | 0～50mm |
精度 | ±0.1μm | |
最小分辨率 | 0.1μm | |
载荷测量 | 量程 | 10kN（65MPa） |
精度 | ±0.3%F.S | |
最小分辨率 | 0.1N | |
温度测量 | 量程 | 0-80℃ |
精度 | ±2℃ | |
湿度测量 | 量程 | 5～95%RH |
精度 | ±3%RH | |
测试原理 | 双探针法 + 日置交流电阻仪 + φ14mm镀金铜柱 | |
电阻标定 | 20mΩ、1Ω、10Ω等多档位标定 | |
尺寸（长*宽*高 ） | 420*340*800mm | |
结果输出 | 初始厚度、形变、载荷、电阻率、电阻、电导率、温湿度、统计数据、云图等 | |
初始厚度：初始轻微接触下的厚度
接触厚度：极片受压后的厚度
接触变形：计算压缩形变量=（初始厚度-接触厚度）/初始厚度
极片电阻：两探针法得到总电阻值
电阻率：使用接触厚度计算电阻率
统计学分析数据